Bruker Nano Analytics introduziu seu novo acessório de micro tomografia computadorizada (CT) para Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV). Micro-CT para MEV pode agregar funções de imagem de Raios X 2D e 3D em alta resolução aos MEVs, permitindo análises não destrutivas de microestruturas internas de amostras em numerosas aplicações, incluindo materiais compostos, cerâmicos, componentes eletrônicos, materiais de filtros, papel, madeira, planta e muitos outros.
O Micro-CT para MEV permite analisar objetos sem nenhuma preparação de amostra específica. Devido a Fonte de Raios X extremamente focalizante e o estágio de rotação de amostra de alta precisão, é possível visualizar em 3D detalhes de até 400nm de tamanho. Uma Câmera CCD de 16 bits de detecção direta é utilizada para gravar as projeções de sombra da micro estrutura interna dos objetos. Os tempos típicos de exposição variam entre 2 e 10 segundos por projeção a uma corrente de elétrons de 100-500 nA. A Câmera de Raios X está disponível em 512x512 ou 1024x1024 pixels de resolução.
O Micro-CT para MEV da Bruker vem acompanhado de um poderoso pacote de software. Um programa para reconstrução 3D está disponível para criar modelos de visualizações reais.
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